介电损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项*技术： 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

介质损耗测定机作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项*技术： 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

介质损耗试验机作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项*技术： 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

介质损耗试验仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项*技术： 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

介质损耗测量仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项*技术： 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

介质损耗测定仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项*技术： 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内Z高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项*技术： 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。

介电常数及介质损耗测试仪是我公司*研制生产的产品，自该产品实现销售后，我公司工程师就一直持续不断对产品改进升级；特别是在软件上不断地加以完善，改进了早期产品存在的不足之处，提高了测试精度，并增加新的功能。